• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта
Контакты

тел./факс: (495) 771-32-38
ул. Кирпичная, 33
индекс: 105187
e-mail: bischool@hse.ru

 

Руководитель Школы — Мальцева Светлана Валентиновна

 

Заместитель руководителя Школы по научной работе — Корнилов Василий Вячеславович

 

Заместитель руководителя Школы по учебной работе — Поклонов Борис Егорович

 

Заместитель руководителя Школы по международному сотрудничеству — Комаров Михаил Михайлович

 

Заместитель руководителя Школы по работе с абитуриентами и выпускниками — Самодуров Владимир Алексеевич

 

Заместитель руководителя Школы по работе с партнерами — Дорофеев Алексей Николаевич

Статья
QoS Metrics Measurement in Long Range IoT Networks

Dvornikov A. A., Abramov P., Efremov S. G. et al.

2017 IEEE 19th Conference on Business Informatics (CBI). 2017. Vol. 2.

Глава в книге
Перспективы развития информационных технологий как инструмента обеспечения деятельности медико-социальной экспертизы

Симаков О. В.

В кн.: Материалы научно-практической конференции медико-социальной экспертизы 2017. М.: ФГБУ ФБ МСЭ Минтруда России, 2017.

Препринт
Russia’s Water Resources 2030: Plausible Scenarios

Saritas O., Proskuryakova L. N., Sivaev S.

Science, Technology and Innovation. WP BRP. Высшая школа экономики, 2015. No. 42.

Мастер-класс Олега Ена, руководителя проектного офиса Федерального института промышленной собственности


24 апреля 2017г., в рамках научно-исследовательского семинара магистерской программы «Системы больших данных» состоялся мастер-класс Ена Олега Валерьевича, руководителя проектного офиса Федерального института промышленной собственности (ФИПС).

Главной темой мастер-класса стали современные инструменты патентной аналитики. Студенты познакомились с новой областью применения больших данных – обработка и анализ больших объемов патентных данных (Big Patent Data).

В программе мастер-класса был сделан обзор современных способов охраны интеллектуальной собственности, особое внимание было уделено ценности и уникальности патентной информации для разных форм бизнес-анализа.

Основной фокус выступления был сосредоточен вокруг наиболее зрелого и современного класса продуктов патентной аналитики – отраслевых патентных ландшафтах. В рамках дискуссии были обсуждены мировой опыт и принципы декомпозиции, разработки поисковых стратегий и интеллектуального анализа при разработке патентных ландшафтов на примере реальных проектов, выполненных ФИПС для крупных высокотехнологичных корпораций России.

В завершение мастер-класса Поповым Николаем Васильевичем, руководителем центра перспективных технологий ФИПС были продемонстрированы практические сценарии работы с современным инструментарием патентной аналитики.

По итогам мастер-класса студенты магистратуры были приглашены в ФИПС для участия в теоретических исследованиях и практических работах по созданию патентных ландшафтов, реализуемых в концепции fast track (экспресс-исследования).

Тематика мастер-класса и патентная аналитика в целом могут стать хорошей областью применения таланта, знаний и практической деятельности студентов в бурно развивающемся и востребованном сегменте на стыке инженерии знаний и анализа больших данных.