• A
  • A
  • A
  • АБВ
  • АБВ
  • АБВ
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта

Мастер-класс «Next-generation patent analytics: domain-specific patent landscapes»

Мероприятие завершено


В рамках научно-исследовательского семинара магистерской программы «Системы больших данных» состоится мастер-класс «Next-generation patent analytics: domain-specific patent landscapes» (рабочий язык – английский).

Мастер-класс проведёт Олег Валерьевич Ена, советник директора, руководитель проектного офиса Федерального института промышленной собственности (ФИПС).

Время: 24 апреля 2017г., понедельник, 18:10
Место: ул. Кирпичная 33, аудитория 314


Основные темы мастер-класса:

  • patent analytics: scope and borders
  • deep patent analytics: theory and practices
  • patent landscapes – modern paradigm of comprehensive patent analytics: foreign experience
  • domain-specific patent landscapes (PL): new approach to deep patent analytics within business context
  • processes, tools and technics for PL pipeline
  • data science methods and tools for analyzing patent data
  • patent analytics tools: state-of-the art and leading providers
  • PL emerging application areas for science, technology and innovation policy making
  • key stakeholders involvement through PL design, elaboration and implementation
  • other tools and technics for patent analytics: R&D entourage and PatScape.ru


Приглашаем всех желающих.
Регистрация и дополнительные вопросы – Корнилов Василий Вячеславович, vkornilov@hse.ru 

 

Олег Ена
Олег Ена
О докладчике:

Oleg Ena has 20+ years' experience in the R&D portfolio management. He has an executive management experience for software and product implementation for different technology areas. His scientific interests include R&D management, patent analytics and landscaping, technology roadmapping and mining, project/program management, scenario building, strategic planning, knowledge management and transfer, foresight evaluation, competitive analysis.